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线圈产生几何变形，温度变化引起的固有电容和漏电损耗增加，都会影响电感线圈的稳定性。电感线圈的稳定性，通常用电感温度系数αL和不稳定系数βL来衡量，αL、、βL越大表示线圈稳定性越差。式中:L2、L1分别表示温度为t2和t1时的电感量（H）。L、Lt分别为原来的和温度循环变化后的电感量，βL表示电感量经过温度循环变化后能恢复到原来数值的不可逆变化情况。温度对电感量的影响，主要是导线热胀冷缩，几何变形而引起的，为减小这一影响，一般采用热绕法（绕制时将导线加热，冷却后导线收缩，紧紧贴合在骨架上），或烧渗法（在线圈的陶瓷骨架上，烧渗一层银薄膜，代替导线），线圈不变形。线圈的结构与常用磁芯线圈通常由骨架、绕组、磁芯、屏蔽罩等组成。除线圈绕组外其余部分根据使用场合各不相同，几种常见电感线圈的结构。收音机中振荡线圈、中频变压器即采用的结构其金属屏蔽罩在电路中接地可起到隔离作用。图3.17是几种常用的线圈磁芯。
我们把有功损耗与无功损耗之比叫损耗因数，tgδ即:tgδ越小，电容质量越好，一般为10－2~10－4数量级。电容的容量会随温度的变化而变化，一般常用αC表示电容器的随温度变化的特性:C1为t1时的电容量（室温20±5℃），C2为t2时（限温度）的电容量，αC越小越好，电容越稳定，由于αC很小，常用PPm/℃表示（百万分之一）。1/℃=10^6PPm/℃云母及瓷介电容稳定性好，温度系数为10^－4/℃=10^2PPm/℃。铝电解稳定性差。差的αC为10^－2/℃，即10^4PPm/℃。多数电容的αC为正，瓷介电容αC为负。几种常用电容器以纸作介质，金属箔作为板，成本低，体积大，损耗（tgδ）大，只适用于低频电路。以纸作介质，在纸上蒸发一层金属薄膜为电板，体积小。有机薄膜:涤纶CL、聚碳酸脂CS、聚丙稀CBB，等。
当E取不同数值时，计算所得数值四舍五入取近似值，形成数值系列。（此系列E一经选定，取E个值时，即可得出E个数值，当n大于E时，可得出又一组数值，分别是前一组数值的10倍）。当E取6、12、24、48……所得数值构成数列，分别称为E6、E12、E24、E48……系列。电抗元件的数值就是按此数列分布的。同时对应不同的数列，允许偏差值也不同，数值分布越疏，偏差越大。常用的E6、E12、E24系列对应的偏差分别为±20%、±10%、±5%，（E48为±2%、E96为±1%）。
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