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线圈产生几何变形，温度变化引起的固有电容和漏电损耗增加，都会影响电感线圈的稳定性。电感线圈的稳定性，通常用电感温度系数αL和不稳定系数βL来衡量，αL、、βL越大表示线圈稳定性越差。式中:L2、L1分别表示温度为t2和t1时的电感量（H）。L、Lt分别为原来的和温度循环变化后的电感量，βL表示电感量经过温度循环变化后能恢复到原来数值的不可逆变化情况。温度对电感量的影响，主要是导线热胀冷缩，几何变形而引起的，为减小这一影响，一般采用热绕法（绕制时将导线加热，冷却后导线收缩，紧紧贴合在骨架上），或烧渗法（在线圈的陶瓷骨架上，烧渗一层银薄膜，代替导线），线圈不变形。线圈的结构与常用磁芯线圈通常由骨架、绕组、磁芯、屏蔽罩等组成。除线圈绕组外其余部分根据使用场合各不相同，几种常见电感线圈的结构。收音机中振荡线圈、中频变压器即采用的结构其金属屏蔽罩在电路中接地可起到隔离作用。图3.17是几种常用的线圈磁芯。
反之，如果PLC的I口接人SB1常闭按钮，则因继电器接触器控制线路的A-1-2-3-B-C回路中SB1是常闭形式，转换为梯形图时，支路中对应的编程元件X1就应为常开触头，两者触头形式刚好相反。触头不直接与右母线相连，线圈不直接与左母线相连。梯形图每一行从左母线开始并终止于右母线，触头不能与右母线直接相连，线圈不能与左母线直接相连。中,3,4,6支路中的常闭触头X3直接接在了右母线上，因与各自的线圈互换位置，才能符合“触头不接右母线”的规则。宁波回收闪迪固态硬盘回收CMOS芯片
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对于容量大于5100pF的电容器，用万用表电阻挡（小电容用R×10k挡，超过1μF的用R×1k挡）测电容的两引线，万用表指针会先向右摆动，然后再慢慢回到左端（充电现象），说明电容管用；如果向右摆后不回来，或回不到左端，说明电容漏电；如果指针不摆动，说明已断路。一个质量好的电容器，用相同的电阻挡位，容量越大，摆动幅度越大。测电解电容时，要注意性，正确测量方法是:用指针式万用表R×1k或R×10k挡，让黑表笔接（表内电池正）电容“+”，红表笔接电容负，表针向右摆动后，然后慢慢回摆，直至回到左端。（电容越大，回摆时间越长，可长至几分钟），再测时，应将电容放电后再测。